Arbeitsgebiete
Im In-Institut werden Forschungsprojekte vorrangig als Verbundprojekte mit der regionalen Wirtschaft beantragt und durchgeführt.
Unter dem Gesichtspunkt "Design for Manufacturing" für optoelektronische Schaltungen sollen Forschungsaufgaben für mixed-signal, multi-nature Systemkomponenten bearbeitet werden. Fragen der Entwurfssicherheit/Robustheit werden durch praktische Messungen untersetzt. Aus den Messungen werden Schlussfolgerungen auf den Entwurfsablauf abgeleitet. Darüber hinaus steht der Entwurf und der Test komplexer mixed-signal Systeme im Vordergrund.
Ausserdem unterstützt das In-Institut die Lehre im Bereich des mixed-signal IC-Designs über die Durchführung von Praktikas. Dies trifft vor allem für folgende Lehrveranstaltungen des Master-Studiengangs "System Design" zu:
- Integration von mixed-signal Schaltungen (CMOS)
- Entwurfsmethodik für mixed-signal Systeme (EDA)
- Signalverarbeitung
- Komplexpraktikum
Über die Betreuung von Master-Arbeiten können Studierende in die Forschungsprojekte einbezogen werden. Die Betreuung von Studierenden bildet die 3. Säule für die Tätigkeitsfelder des Institutes.
System- und Schaltungsentwurf für analoge mixed-signal und optoelektronische Sensor-IC;
- Design for manufacturability / Design for yield (DFM/DFY), Optimierung und Entwurfsraumzentrierung, Fragen der Entwurfssicherheit/Robustheit;
- Studien zum Chiplayout.
- Messung und Charakterisierung von optoelektronischen Schaltungen;
- Untersuchung von Umwelteinflüssen und Alterungseffekten.
Entwurf auf der Systemniveau:
- Cyber-Physical Systems (CPS)
- Algorithmenentwurf und -analyse,
- Performance-Analyse (Schwerpunkte: Toleranz gegenüber Signal- und Quantisierungsrauschen (Wortlänge))
- Verifikation auf Systemniveau: Testbench, Generierung von Referenzpattern
Implementierung komplexer mixed-signal Systeme:
- Re-konfigurierbare mixed-signal Systeme;
- Entwurfssicherheit von mixed-signal Schaltungen, Beeinflussung von Schaltungskomponenten;
- Design for testability (DFT): testgerechter Entwurf, Testung von SoC (Boundary Scan).