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UID:247-2170@www.eah-jena.de
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SUMMARY:Fertigungstechnisches Kolloquium trifft TopMapDay
DESCRIPTION:Die Veranstaltung beinhaltet Fachvorträge  (Vortragsbeginn 11 U
 hr)und praktische Beispiele rund um die optische Charakterisierung und -Ana
 lyse verschiedenster technischer Oberflächen. Dabei wird das Messverfahren 
 der Weißlichtinterferometrie im Vordergrund stehen. Darüber hinaus werden a
 uch die neuen Messmöglichkeiten an der EAH Jena zur Bestimmung von Risstief
 enschädigungen mittels der Optischen Kohärenztomographie (OCT) präsentiert.
 \n\nIm Rahmen von Live-Vorführungen werden die Vorteile und Möglichkeiten d
 er optischen Oberflächenanalyse demonstriert und bei Bedarf auch Messaufgab
 en der Teilnehmer betrachtet.\n\nZum Ausklang der Veranstaltung bietet ein 
 gemeinsames Essen mit Thüringer Spezialitäten die Möglichkeit ins Gespräch 
 zu kommen, Ideen zu diskutieren, sich zu vernetzen und Erfahrungen auszutau
 schen.\n\nZur Planung bitten wir um Anmeldung über unsere Website: 22. Fert
 igungstechnisches Kolloquium trifft TopMapDay\n\nZum Programm geht es über 
 den Button Webseite, rechts in der Sidebar!\n\n\n\n
LOCATION:Hörsaal 6; Haus 4 (04.00.01)
DTSTAMP:20230516T120354Z
DTSTART:20230606T070000Z
DTEND:20230606T150000Z
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